
Количественный рентгеноспектральный микроанализ полупроводниковыx материалов: Дисс. Кандидата физико-матемтическиx наук: 01.04.10/ Во Тан Лонг
Tác giả : Во Тан Лонг
Năm xuất bản : 1995
Nơi xuất bản : Санкт-Петербург
Mô tả vật lý : 300с.; 30см 1 реферат
Số phân loại : 543
Chủ đề : 1. Phân tích định lượng. 2. Vật liệu bán dẫn. 3. X quang. 4. 7.
Thông tin chi tiết
Tóm tắt : | Phát triển những khái niệm mô phỏng dành cho vi phân định lượng bằng X-quang (VPĐLPX), tối ưu hóa các thuật toán tính toán, lập phần mềm, cũng như ứng dụng những kết quả trên để phân tích các vật liệu bán dẫn |
Thông tin dữ liệu nguồn
Thư viện | Ký hiệu xếp giá | Dữ liệu nguồn |
---|---|---|
![]() |
L6141 |
https://opac.nlv.gov.vn/pages/opac/wpid-detailbib-id-254871.html |