loading

Количественный рентгеноспектральный микроанализ полупроводниковыx материалов: Дисс. Кандидата физико-матемтическиx наук: 01.04.10/ Во Тан Лонг

Tác giả : Во Тан Лонг

Năm xuất bản : 1995

Nơi xuất bản : Санкт-Петербург

Mô tả vật lý : 300с.; 30см 1 реферат

Số phân loại : 543

Chủ đề : 1. Phân tích định lượng. 2. Vật liệu bán dẫn. 3. X quang. 4. 7.

Thông tin chi tiết

Tóm tắt :

Phát triển những khái niệm mô phỏng dành cho vi phân định lượng bằng X-quang (VPĐLPX), tối ưu hóa các thuật toán tính toán, lập phần mềm, cũng như ứng dụng những kết quả trên để phân tích các vật liệu bán dẫn

 Thông tin dữ liệu nguồn

 Thư viện  Ký hiệu xếp giá  Dữ liệu nguồn
Thư viện Quốc gia Việt Nam L6141
https://opac.nlv.gov.vn/pages/opac/wpid-detailbib-id-254871.html