loading
  • Trang chủ
  • Luận án, luận văn
  • Анализ нанотопографии поверхностей и локальных физико-механических свойств материалов с помощью атомно-силового микроскопа на базе камертонного датчика: Дисс. Кан-та тех. наук: 01.04.07/ Во Тхань Тунг
Luận án, luận văn

Анализ нанотопографии поверхностей и локальных физико-механических свойств материалов с помощью атомно-силового микроскопа на базе камертонного датчика: Дисс. Кан-та тех. наук: 01.04.07/ Во Тхань Тунг

Tác giả : Во Тхань Тунг

Năm xuất bản : 2009

Nơi xuất bản : МИНСК

Mô tả vật lý : 151с.: лии.; 30cм 1 реферат

Số phân loại : 539

Chủ đề : 1. Kính hiển vi điện tử. 2. Vật lí nguyên tử. 3. Vật liệu.

Chia sẻ

Thông tin chi tiết

Tóm tắt :

Quá trình nghiên cứu bề mặt của các vật liệu khác nhau ở mức nano bằng phương pháp phân tích hình ảnh bề mặt cũng như khảo sát tính chất lý cơ định cứ của vật liệu dựa trên kính hiển vi lực nguyên tử với hệ hoạt động ở chế độ quét ngang và chế độ dao động thẳng đứng
Chia sẻ


Hiển thị MARC

 Thông tin dữ liệu nguồn

 Thư viện  Ký hiệu xếp giá  Dữ liệu nguồn
Thư viện Quốc gia Việt Nam LA04.14348
 https://opac.nlv.gov.vn/pages/opac/wpid-detailbib-id-396216.html