Анализ нанотопографии поверхностей и локальных физико-механических свойств материалов с помощью атомно-силового микроскопа на базе камертонного датчика: Дисс. Кан-та тех. наук: 01.04.07/ Во Тхань Тунг
Tác giả : Во Тхань Тунг
Năm xuất bản : 2009
Nơi xuất bản : МИНСК
Mô tả vật lý : 151с.: лии.; 30cм 1 реферат
Số phân loại : 539
Chủ đề : 1. $2Bộ TK TVQGKính hiển vi điện tử. 2. $2Bộ TK TVQGVật lí nguyên tử. 3. $2Bộ TK TVQGVật liệu.
Thông tin chi tiết
Tóm tắt : | Quá trình nghiên cứu bề mặt của các vật liệu khác nhau ở mức nano bằng phương pháp phân tích hình ảnh bề mặt cũng như khảo sát tính chất lý cơ định cứ của vật liệu dựa trên kính hiển vi lực nguyên tử với hệ hoạt động ở chế độ quét ngang và chế độ dao động thẳng đứng |
Thông tin dữ liệu nguồn
Thư viện | Ký hiệu xếp giá | Dữ liệu nguồn |
---|---|---|
Thư viện Quốc gia Việt Nam |
LA04.14348 |
https://opac.nlv.gov.vn/pages/opac/wpid-detailbib-id-396216.html |