
發明專利實體審查基準: = Substantive examination guidelines for invention patent/ 编著: 张仁平
Tác giả : 编著: 张仁平
Nhà xuất bản : 经济部智慧财产局
Năm xuất bản : 2007
Nơi xuất bản : 台北
Thông tin dữ liệu nguồn
Thư viện | Ký hiệu xếp giá | Dữ liệu nguồn |
---|---|---|
![]() |
|
https://opac.nlv.gov.vn/pages/opac/wpid-detailbib-id-417444.html |