loading

Studies on strain measurement of nanostructures by high - resolution TEM and dark - field electron holography techniques: Thesis/ Hoang Van Vuong

Tác giả : Hoang Van Vuong

Năm xuất bản : 2017

Nơi xuất bản : Daejeon

Mô tả vật lý : XX, 117 p.: ill.; 30 cm 1 resume

Số phân loại : 530.8

Chủ đề : 1. $2Bộ TK TVQGCấu trúc nano. 2. $2Bộ TK TVQGĐo lường. 3. $2Bộ TK TVQGHiển vi điện tử. 4. $2Bộ TK TVQGỨng suất.

Thông tin chi tiết

Tóm tắt :

Nghiên cứu thực hiện các phương pháp đo lường ứng suất bên trong cấu trúc nano của lớp SiGe/Si dưới 10nm, SiGe hình tam giác kích thước nano và giếng lượng tử InGaN/GaN nhiều lớp bằng kỹ thuật nhiễu xạ tia X, kỹ thuật vi điện tử truyền qua phân giải cao và toàn ảnh điện tử trường tối

 Thông tin dữ liệu nguồn

 Thư viện  Ký hiệu xếp giá  Dữ liệu nguồn
Thư viện Quốc gia Việt Nam LA17.2432.1, LA17.2432.2, LA17.2432.3
https://opac.nlv.gov.vn/pages/opac/wpid-detailbib-id-744286.html