CMOS SRAM circuit design and parametric test in nano-scaled technologies : process-aware SRAM design and test / Sachdev, Manoj.
Tác giả : Sachdev, Manoj.
Nhà xuất bản : Springer
Năm xuất bản : 2008
Mô tả vật lý : 203 p.
Số phân loại : 621.38152
Chủ đề : 1. Design.. 2. Metal oxide semiconductors, Complementary. 3. Nanoelectronics.. 4. Random access memory.. 5. Book.
Thông tin chi tiết
Tóm tắt : | Introduction and Motivation -- SRAM Circuit Design and Operation -- SRAM Cell Stability: Definition, Modeling and Testing -- Traditional SRAM Fault Models and Test Practices -- Techniques for Detection of SRAM Cells with Stability Faults -- Soft Errors in SRAMs: Sources, Mechanisms and Mitigation Techniques. |
Thông tin dữ liệu nguồn
Thư viện | Ký hiệu xếp giá | Dữ liệu nguồn |
---|---|---|
Đại học quốc gia Hà Nội |
|
https://repository.vnu.edu.vn/handle/VNU_123/27331 |