loading

CMOS SRAM circuit design and parametric test in nano-scaled technologies : process-aware SRAM design and test / Sachdev, Manoj.

Tác giả : Sachdev, Manoj.

Nhà xuất bản : Springer

Năm xuất bản : 2008

Mô tả vật lý : 203 p.

Số phân loại : 621.38152

Chủ đề : 1. Design.. 2. Metal oxide semiconductors, Complementary. 3. Nanoelectronics.. 4. Random access memory.. 5. Book.

Thông tin chi tiết

Tóm tắt :

Introduction and Motivation -- SRAM Circuit Design and Operation -- SRAM Cell Stability: Definition, Modeling and Testing -- Traditional SRAM Fault Models and Test Practices -- Techniques for Detection of SRAM Cells with Stability Faults -- Soft Errors in SRAMs: Sources, Mechanisms and Mitigation Techniques.

 Thông tin dữ liệu nguồn

 Thư viện  Ký hiệu xếp giá  Dữ liệu nguồn
Đại học quốc gia Hà Nội
https://repository.vnu.edu.vn/handle/VNU_123/27331