loading
  • Trang chủ
  • Sách, tuyển tập
  • VLSI test principles and architectures : : Design for testability / Edited by Laung-Terng Wang, Cheng-Wen Wu, Xiaoqing Wen
Sách, tuyển tập

VLSI test principles and architectures : : Design for testability / Edited by Laung-Terng Wang, Cheng-Wen Wu, Xiaoqing Wen

Tác giả : Edited by Laung-Terng Wang, Cheng-Wen Wu, Xiaoqing Wen

Nhà xuất bản : Elsevier Morgan Kaufmann Publishers

Năm xuất bản : 2006

Nơi xuất bản : Amsterdam

Mô tả vật lý : xxx, 777 p. : ill. ; 25 cm

ISBN : 9780123705976

Số phân loại : 621.395

Chủ đề : 1. Mạch tích hợp -- Kiểm tra -- Mạch tích hợp quy mô lớn. 2. Mạch tích hợp -- Mạch tích hợp quy mô lớn -- Thiết kế. 3. Integrated circuits -- Design -- Very large scale integration. 4. Integrated circuits -- Testing -- Very large scale integration. 5. Kỹ nghệ điện tử.

Chia sẻ

Thông tin chi tiết

Tóm tắt :

This book is a fundamental VLSI Testing and Design-for-Testability (DFT) textbook allowing undergraduates, DFT practitioners, and VLSI designers to learn quickly the basic VLSI Test concepts, principles, and architectures, for test and diagnosis of digital, memory, and analog/mixed-signal designs. VLSI Testing is very basic to the semiconductor industry and is something that almost everyone in the industry needs to have some knowledge of. It is often not sufficiently covered in undergraduate curricula; therefore this book fill the gap in this area for both students and professionals in semiconductor manufacturing, design, systems, electronic design automation (EDA), etc. As 100 million transistor designs are now common, test costs are 25-40% of the overall cost of manufacturing a chip and how a chip is designed greatly impacts the cost of test. As such, it is important for designers and managers to understand the concepts and principles of testing and design-for-test techniques.
Chia sẻ


Hiển thị MARC

 Thông tin dữ liệu nguồn

 Thư viện  Ký hiệu xếp giá  Dữ liệu nguồn
Thư viện đại học Cần Thơ
https://lrcopac.ctu.edu.vn/pages/opac/wpid-detailbib-id-157777.html

 

 

 Tài liệu cùng danh mục chủ đề

placeholder+image

Sách, tuyển tập

Học và làm việc với công nghệ điện tử kỹ thuật số / Đức Minh

Tác giả : Đức Minh

Nhà xuất bản : Thanh Niên

Năm xuất bản : 2010

placeholder+image

Sách, tuyển tập

Máy vi tính : : Sự cố, chẩn đoán và cách giải quyết / Võ Văn Thành

Tác giả : Võ Văn Thành

Nhà xuất bản : SAMIS

Năm xuất bản : 1994

placeholder+image

Sách, tuyển tập

Thiết kế máy điện : : Sách dùng cho sinh viên đại học và cao đẳng kỹ thuật / Trần Khánh Hà, Nguyễn Hồng Thanh

Tác giả : Trần Khánh Hà, Nguyễn Hồng Thanh

Nhà xuất bản : Khoa học và Kỹ thuật

Năm xuất bản : 2006

placeholder+image

Sách, tuyển tập

Geometric partial differential equations and image analysis / Guillermo Sapiro

Tác giả : Guillermo Sapiro

Nhà xuất bản : Cambridge University Press

Năm xuất bản : 2001

placeholder+image

Sách, tuyển tập

Ngắn mạch và ổn định trong hệ thống điện / Nguyễn Hoàng Việt (Chủ biên) ; Phan Thị Thanh Bình, Huỳnh Châu Duy

Tác giả : Nguyễn Hoàng Việt (Chủ biên) ; Phan Thị Thanh Bình, Huỳnh Châu Duy

Nhà xuất bản : Đại học Quốc gia Thành phố Hồ Chí Minh

Năm xuất bản : 2010