loading

Surface analysis of polymers by XPS and static SIMS / D. Briggs

Tác giả : D. Briggs

Nhà xuất bản : Cambridge University Press

Năm xuất bản : 1998

Nơi xuất bản : Cambridge

Mô tả vật lý : xiv, 198 p. : ill. ; 25 cm

ISBN : 9780521352222

Số phân loại : 620.192

Chủ đề : 1. Khối lượng ion. 2. Polyme -- Phân tích -- Bề mặt. 3. Tia X. 4. Polymers -- Surfaces -- Analysis. 5. Secondary ion mass Spectrometry. 6. X-ray spectroscopy. 7. Cơ học công trình. 8. Kỹ thuật.

Thông tin chi tiết

Tóm tắt :

This in-depth treatment of the instrumentation, physical bases and applications of x-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and static secondary ion mass spectroscopy (SSIMS) contains a specific focus on the subject of polymeric materials. XPS and SSIMS are widely accepted as the two most powerful techniques for polymer surface chemical analysis, particularly in the context of industrial research and problem solving.

 Thông tin dữ liệu nguồn

 Thư viện  Ký hiệu xếp giá  Dữ liệu nguồn
Thư viện đại học Cần Thơ
https://lrcopac.ctu.edu.vn/pages/opac/wpid-detailbib-id-168355.html