loading

Electron and ion beam science and technology : proc. of the 2nd Internat. Conf. New York, N.J. Apr. 1966 / edited by Robert Bakish

Tác giả : edited by Robert Bakish

Nhà xuất bản : AIME

Năm xuất bản : 1969

Nơi xuất bản : New York

Mô tả vật lý : 2t

Số phân loại : 537.5

Tùng thư : Metallurgical Soc. conf

Chủ đề : 1. Tia điện tử.

 Thông tin dữ liệu nguồn

 Thư viện  Ký hiệu xếp giá  Dữ liệu nguồn
Thư viện Khoa học Tổng hợp TP.HCM MLv 11105, MLv 8885
https://phucvu.thuvientphcm.gov.vn/Item/ItemDetail/75813?siteid=2