Nâng cao chất lượng ảnh chụp siêu âm cắt lớp dùng phương pháp nội suy : Luận văn ThS. Kỹ thuật điên tử - viễn thông: 60 52 70 / Đặng, Quang Vương; Trần, Đức Tân
Tác giả : Đặng, Quang Vương; Trần, Đức Tân
Nhà xuất bản : Trường Đại học Công nghệ
Năm xuất bản : 2013
Mô tả vật lý : 50 tr.
Chủ đề : 1. Ảnh chụp. 2. Kỹ thuật điện tử. 3. Phương pháp nội suy. 4. Siêu âm cắt lớp. 5. Thesis.
Thông tin chi tiết
Tóm tắt : | Luận văn ThS. Kỹ thuật điên tử -- Trường Đại học Công nghệ. Đại học Quốc gia Hà Nội, 2013Phương pháp tán xạ ngược (inverse scattering) sử dụng siêu âm cắt lớp (ultrasound tomography) cho phép đo được những cấu trúc nhỏ hơn bước song, điều mà phương pháp phổ biến trong Y-Sinh là B-mode không thể làm được, nhưng những phương pháp trong ultrasoun (...)Electronic Resources |
Thông tin dữ liệu nguồn
Thư viện | Ký hiệu xếp giá | Dữ liệu nguồn |
---|---|---|
Đại học Công nghệ - ĐHQGHN |
|
https://repository.vnu.edu.vn/handle/VNU_123/41991 |