loading

Nâng cao chất lượng ảnh chụp siêu âm cắt lớp dùng phương pháp nội suy : Luận văn ThS. Kỹ thuật điên tử - viễn thông: 60 52 70 / Đặng, Quang Vương; Trần, Đức Tân

Tác giả : Đặng, Quang Vương; Trần, Đức Tân

Nhà xuất bản : Trường Đại học Công nghệ

Năm xuất bản : 2013

Mô tả vật lý : 50 tr.

Chủ đề : 1. Ảnh chụp. 2. Kỹ thuật điện tử. 3. Phương pháp nội suy. 4. Siêu âm cắt lớp. 5. Thesis.

Thông tin chi tiết

Tóm tắt :

Luận văn ThS. Kỹ thuật điên tử -- Trường Đại học Công nghệ. Đại học Quốc gia Hà Nội, 2013Phương pháp tán xạ ngược (inverse scattering) sử dụng siêu âm cắt lớp (ultrasound tomography) cho phép đo được những cấu trúc nhỏ hơn bước song, điều mà phương pháp phổ biến trong Y-Sinh là B-mode không thể làm được, nhưng những phương pháp trong ultrasoun (...)Electronic Resources

 Thông tin dữ liệu nguồn

 Thư viện  Ký hiệu xếp giá  Dữ liệu nguồn
Đại học Công nghệ - ĐHQGHN
https://repository.vnu.edu.vn/handle/VNU_123/41991