Gate dielectric integrity : material, process, and tool qualification : conference held on Jan. 25, 1999 in San Jose, California / ed. by Dinesh C. Gupta and George A. Brown

Tác giả : ed. by Dinesh C. Gupta and George A. Brown

Nhà xuất bản : ASTM

Năm xuất bản : 2000

Nơi xuất bản : West Conshohocken, PA

Mô tả vật lý : xi,169tr. : minh họa ; 23cm

ISBN : 0-8031-2615-8

Số phân loại : 621.38152

Tùng thư : STP

Chủ đề : 1. Điện môi -- nghiệm. 2. Mạch mảng cửa -- Vật liệu. 3. Mạch tích hợp -- Tích hợp cỡ lát -- Độ tin cậy. 4. Miếng lát bán dẫn -- Độ tin cậy.

 Thông tin dữ liệu nguồn

 Thư viện  Ký hiệu xếp giá  Dữ liệu nguồn
Thư viện Khoa học Tổng hợp TP.HCM AF 1181, AF 1320, AF 1388
https://phucvu.thuvientphcm.gov.vn//Item/ItemDetail/171401?siteid=2