
Gate dielectric integrity : material, process, and tool qualification : conference held on Jan. 25, 1999 in San Jose, California / ed. by Dinesh C. Gupta and George A. Brown
Tác giả : ed. by Dinesh C. Gupta and George A. Brown
Nhà xuất bản : ASTM
Năm xuất bản : 2000
Nơi xuất bản : West Conshohocken, PA
Mô tả vật lý : xi,169tr. : minh họa ; 23cm
ISBN : 0-8031-2615-8
Số phân loại : 621.38152
Tùng thư :
STP
Chủ đề : 1. Điện môi -- nghiệm. 2. Mạch mảng cửa -- Vật liệu. 3. Mạch tích hợp -- Tích hợp cỡ lát -- Độ tin cậy. 4. Miếng lát bán dẫn -- Độ tin cậy.
Thông tin dữ liệu nguồn
Thư viện | Ký hiệu xếp giá | Dữ liệu nguồn |
---|---|---|
![]() |
AF 1181, AF 1320, AF 1388 |
https://phucvu.thuvientphcm.gov.vn//Item/ItemDetail/171401?siteid=2 |