loading

Proceedings of the Third annual scanning electron microscope symposium : held at IIT Research Inst

Nhà xuất bản : [s.n.

Năm xuất bản : 19

Nơi xuất bản : Chic., Ill.

Mô tả vật lý : viii,534tr. : minh họa ; 28cm

 Thông tin dữ liệu nguồn

 Thư viện  Ký hiệu xếp giá  Dữ liệu nguồn
Thư viện Khoa học Tổng hợp TP.HCM MLd 454
https://phucvu.thuvientphcm.gov.vn//Item/ItemDetail/244965?siteid=2