Imaging techniques for testing and inspection : Seminar -in-depth. Febr. 1972 Los Angeles (Cal.) / Ed. by John C. Urbach
Tác giả : Ed. by John C. Urbach
Năm xuất bản : 1972
Nơi xuất bản : Cal.
Mô tả vật lý : v, 149tr. : 3 phụ bản
Tùng thư :
Proc. of the SPIE. Vol. 29
Thông tin dữ liệu nguồn
Thư viện | Ký hiệu xếp giá | Dữ liệu nguồn |
---|---|---|
Thư viện Khoa học Tổng hợp TP.HCM |
MLd 1020 |
https://phucvu.thuvientphcm.gov.vn//Item/ItemDetail/249807?siteid=2 |