loading

Nghiên cứu kỹ thuật kiểm tra không phá hủy sử dụng phương pháp siêu âm và máy nội soi công nghiệp Olympus NDT Iplex LX / Đinh, Văn Nam

Tác giả : Đinh, Văn Nam

Nhà xuất bản : ĐHQGHN

Năm xuất bản : 2014

Mô tả vật lý : 57 tr.

Chủ đề : 1. Máy nội soi công nghiệp. 2. Phương pháp siêu âm. 3. Vật lý. 4. Vật lý điện tử. 5. Thesis.

Thông tin chi tiết

Tóm tắt :

Chương 1; Tổng quan về kỹ thuật NDT. Chương 2: Một số nguyên lý và kỹ thuật NDT. Chương 3: Nguyên lý Stereo imaging. Chương 4: Một số phép đo độ sâu, khoảng cách thực hiện trên thiết bị KTKPH Olympus NDT Iplex LX.

 Thông tin dữ liệu nguồn

 Thư viện  Ký hiệu xếp giá  Dữ liệu nguồn
Đại học quốc gia Hà Nội
https://repository.vnu.edu.vn/handle/VNU_123/7646
Đại học khoa học tự nhiên - ĐHQGHN
https://repository.vnu.edu.vn/handle/VNU_123/39130