Nghiên cứu kỹ thuật kiểm tra không phá hủy sử dụng phương pháp siêu âm và máy nội soi công nghiệp Olympus NDT Iplex LX / Đinh, Văn Nam
Tác giả : Đinh, Văn Nam
Nhà xuất bản : ĐHQGHN
Năm xuất bản : 2014
Mô tả vật lý : 57 tr.
Chủ đề : 1. Máy nội soi công nghiệp. 2. Phương pháp siêu âm. 3. Vật lý. 4. Vật lý điện tử. 5. Thesis.
Thông tin chi tiết
Tóm tắt : | Chương 1; Tổng quan về kỹ thuật NDT. Chương 2: Một số nguyên lý và kỹ thuật NDT. Chương 3: Nguyên lý Stereo imaging. Chương 4: Một số phép đo độ sâu, khoảng cách thực hiện trên thiết bị KTKPH Olympus NDT Iplex LX. |
Thông tin dữ liệu nguồn
Thư viện | Ký hiệu xếp giá | Dữ liệu nguồn |
---|---|---|
Đại học quốc gia Hà Nội |
|
https://repository.vnu.edu.vn/handle/VNU_123/7646 |
Đại học khoa học tự nhiên - ĐHQGHN |
|
https://repository.vnu.edu.vn/handle/VNU_123/39130 |