loading

System-on-chip test architectures : nanometer design for testability / ed. by Laung-Terng Wang [et al.]

Tác giả : ed. by Laung-Terng Wang [et al.]

Nhà xuất bản : Morgan Kaufmann

Năm xuất bản : 2008

Nơi xuất bản : Amsterdam [etc.]

Mô tả vật lý : xxxvi,856tr. : minh họa ; 24cm

ISBN : 9780123739735

Số phân loại : 621.395

Tùng thư : The Morgan Kaufmann series in systems on silicon

Chủ đề : 1. Con chip hệ thống -- Kiểm tra. 2. Mạch tích hợp -- Kiểm tra. 3. Mạch tích hợp -- Thiết kế.

 Thông tin dữ liệu nguồn

 Thư viện  Ký hiệu xếp giá  Dữ liệu nguồn
Thư viện Khoa học Tổng hợp TP.HCM LV 1029/2009
https://phucvu.thuvientphcm.gov.vn//Item/ItemDetail/423265?siteid=2