System-on-chip test architectures : nanometer design for testability / ed. by Laung-Terng Wang [et al.]
Tác giả : ed. by Laung-Terng Wang [et al.]
Nhà xuất bản : Morgan Kaufmann
Năm xuất bản : 2008
Nơi xuất bản : Amsterdam [etc.]
Mô tả vật lý : xxxvi,856tr. : minh họa ; 24cm
ISBN : 9780123739735
Số phân loại : 621.395
Tùng thư :
The Morgan Kaufmann series in systems on silicon
Chủ đề : 1. Con chip hệ thống -- Kiểm tra. 2. Mạch tích hợp -- Kiểm tra. 3. Mạch tích hợp -- Thiết kế.
Thông tin dữ liệu nguồn
Thư viện | Ký hiệu xếp giá | Dữ liệu nguồn |
---|---|---|
Thư viện Khoa học Tổng hợp TP.HCM |
LV 1029/2009 |
https://phucvu.thuvientphcm.gov.vn//Item/ItemDetail/423265?siteid=2 |