Multi-scale characterization of crystalline properties in thick AIN epitaxial films grown on trench-patterned templates / Dinh Thanh Khan
Tác giả : Dinh Thanh Khan
Nhà xuất bản : Osaka University
Năm xuất bản : 2014
Nơi xuất bản : Osaka, Japan
Mô tả vật lý : 114 tr. : minh họa (1 phần màu) ; 30 cm
Số phân loại : 660.284298
Chủ đề : 1. Aluminum nitride. 2. Kết tinh. 3. Luận án -- Nhật Bản.
Thông tin dữ liệu nguồn
Thư viện | Ký hiệu xếp giá | Dữ liệu nguồn |
---|---|---|
Thư viện Khoa học Tổng hợp TP.HCM |
LA 21838 |
https://phucvu.thuvientphcm.gov.vn//Item/ItemDetail/504144?siteid=2 |