loading

Multi-scale characterization of crystalline properties in thick AIN epitaxial films grown on trench-patterned templates / Dinh Thanh Khan

Tác giả : Dinh Thanh Khan

Nhà xuất bản : Osaka University

Năm xuất bản : 2014

Nơi xuất bản : Osaka, Japan

Mô tả vật lý : 114 tr. : minh họa (1 phần màu) ; 30 cm

Số phân loại : 660.284298

Chủ đề : 1. Aluminum nitride. 2. Kết tinh. 3. Luận án -- Nhật Bản.

 Thông tin dữ liệu nguồn

 Thư viện  Ký hiệu xếp giá  Dữ liệu nguồn
Thư viện Khoa học Tổng hợp TP.HCM LA 21838
https://phucvu.thuvientphcm.gov.vn//Item/ItemDetail/504144?siteid=2