loading

Recombination lifetime measurements in sillicon/ Ed.: Dinesh C. Gupta, Fred R. Bacher, William M. Hughes

Tác giả : Ed.: Dinesh C. Gupta, Fred R. Bacher, William M. Hughes

Nhà xuất bản : ASTM

Năm xuất bản : 1998

Nơi xuất bản : Philadelphia

Mô tả vật lý : 392tr.; 25cm

ISBN : 0803124899

Tùng thư : STP 1340

Chủ đề : 1. $2Bộ TK TVQGPhương pháp tính toán. 2. $2Bộ TK TVQGSilicon. 3. $2Bộ TK TVQGTuổi thọ. 4. $2Bộ TK TVQGVật liệu.

Thông tin chi tiết

Tóm tắt :

Tập hợp các bài nghiên cứu thảo luận về các phương pháp đo, tính toán thời gian đông cứng (thời gian sống) của silicon: các khái niệm về thời gian sống; Các phương pháp kỹ thuật để đo đạc, phương pháp nhiệt điện, phương pháp Elymát; So sánh giữa các biện pháp kỹ thuật và những ứng dụng của các phương pháp này

 Thông tin dữ liệu nguồn

 Thư viện  Ký hiệu xếp giá  Dữ liệu nguồn
Thư viện Quốc gia Việt Nam
https://opac.nlv.gov.vn/pages/opac/wpid-detailbib-id-219818.html