
Recombination lifetime measurements in sillicon/ Ed.: Dinesh C. Gupta, Fred R. Bacher, William M. Hughes
Tác giả : Ed.: Dinesh C. Gupta, Fred R. Bacher, William M. Hughes
Nhà xuất bản : ASTM
Năm xuất bản : 1998
Nơi xuất bản : Philadelphia
Mô tả vật lý : 392tr.; 25cm
ISBN : 0803124899
Tùng thư :
STP 1340
Chủ đề : 1. $2Bộ TK TVQGPhương pháp tính toán. 2. $2Bộ TK TVQGSilicon. 3. $2Bộ TK TVQGTuổi thọ. 4. $2Bộ TK TVQGVật liệu.
Thông tin chi tiết
Tóm tắt : | Tập hợp các bài nghiên cứu thảo luận về các phương pháp đo, tính toán thời gian đông cứng (thời gian sống) của silicon: các khái niệm về thời gian sống; Các phương pháp kỹ thuật để đo đạc, phương pháp nhiệt điện, phương pháp Elymát; So sánh giữa các biện pháp kỹ thuật và những ứng dụng của các phương pháp này |
Thông tin dữ liệu nguồn
Thư viện | Ký hiệu xếp giá | Dữ liệu nguồn |
---|---|---|
![]() |
|
https://opac.nlv.gov.vn/pages/opac/wpid-detailbib-id-219818.html |