
Recombination lifetime measurements in silicon : held at Santa Clara, CA on 2-3 June, 1997 / Dinesh C. Gupta [et al.] ed
Tác giả : Dinesh C. Gupta [et al.] ed
Nhà xuất bản : ASTM
Năm xuất bản : 1998
Nơi xuất bản : West Conshohocken, PA
Mô tả vật lý : 392 tr. : minh họa ; 23 cm
ISBN : 0-8031-2489-9
Số phân loại : 621.38152
Tùng thư :
STP
Chủ đề : 1. Bán dẫn -- Thử nghiệm -- Hội nghị. 2. Độ bền (Kỹ thuật) -- Dự báo -- Hội nghị. 3. Đo lường điện tử -- Hội nghị.
Thông tin dữ liệu nguồn
Thư viện | Ký hiệu xếp giá | Dữ liệu nguồn |
---|---|---|
![]() |
AF 2673 |
https://phucvu.thuvientphcm.gov.vn//Item/ItemDetail/280434?siteid=2 |