loading

Recombination lifetime measurements in silicon : held at Santa Clara, CA on 2-3 June, 1997 / Dinesh C. Gupta [et al.] ed

Tác giả : Dinesh C. Gupta [et al.] ed

Nhà xuất bản : ASTM

Năm xuất bản : 1998

Nơi xuất bản : West Conshohocken, PA

Mô tả vật lý : 392 tr. : minh họa ; 23 cm

ISBN : 0-8031-2489-9

Số phân loại : 621.38152

Tùng thư : STP

Chủ đề : 1. Bán dẫn -- Thử nghiệm -- Hội nghị. 2. Độ bền (Kỹ thuật) -- Dự báo -- Hội nghị. 3. Đo lường điện tử -- Hội nghị.

 Thông tin dữ liệu nguồn

 Thư viện  Ký hiệu xếp giá  Dữ liệu nguồn
Thư viện Khoa học Tổng hợp TP.HCM AF 2673
https://phucvu.thuvientphcm.gov.vn//Item/ItemDetail/280434?siteid=2